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      1. 歡迎訪問X射線熒光光譜儀廠家:廣州儀德精密科學儀器股份有限公司網站!
        主營產品:X射線熒光光譜儀

        xrf熒光光譜儀

        型 號

        產品時間2024-03-17

        所屬分類xrf熒光光譜儀

        訪問量4369

        產品描述:xrf熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司新開發的具有超高速元素分析能力的手持式X熒光光譜儀,可滿足多種金屬基體材料以及土壤,塑膠,礦石等多種復雜材料的光譜化學成分分析需要。以其的分析速度,媲美實驗室級的分析精度和便于操作的特點為同類型手持式光譜分析儀設立了新的標準。
        產品概述

        xrf熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司新開發的具有超高速元素分析能力的手持式X熒光光譜儀,可滿足多種金屬基體材料以及土壤,塑膠,礦石等多種復雜材料的光譜化學成分分析需要。以其的分析速度,媲美實驗室級的分析精度和便于操作的特點為同類型手持式光譜分析儀設立了新的標準。

        新一代SPECTRO xrf熒光光譜儀在繼承既有的高性價比,高效能優點基礎上,更針對客戶精確定位分析的需要增加了可視化CCD攝像頭以滿足小焦點精確定位分析的要求,測試點的影像可以和分析結果一起保存在系統內存中,一體化集成GPS定位可以將測試點經緯度坐標信息同測試結果一起保存,便于回溯,大的提升了工作效率。

        ① 可在大氣中現場快速無損的(2秒顯示牌號和實驗室級的分析結果/額外增加10秒可分析Mg,Al,Si,P,S)分析檢測并鑒別出各種不銹鋼,低合金鋼,有色合金,金屬等材質中的常量和微量元素含量,檢出限可達幾個ppm,并可根據用戶應用需要進行擴展,以滿足粉末,礦石,土壤等不同樣品更多的分析測試要求,測量元素可達47種。

        ② 設備體積小,重量輕,分析精度高,中英文操作系統、集一體化程度高,可靠性佳,集多種應用于一體,特別適用于高精度材料成分快速檢測。

        ③ 配有Peltier電制冷硅漂移SDD(Sillicon Draft detector)計數器, 數據處理能力10倍于PIN二*管檢測器,可有效防止計數溢出造成的漏計。SDD技術顯著減少分析所占用的X射線開啟時間,在同樣的儀器使用條件下可以測試更多的樣品,有效提升工作效率。

        ④ 采用復合濾光片 (多金屬復合材料) 設計, 顯著減少了由于更換濾波片造成的分析時間的浪費(*高縮短5倍時間),采用不同的激發條件保證對元素周期表中Mg – Th 的所有元素均有理想的激發效果,減少了操作時間,大幅度降低X射線對操作人員造成傷害的可能性, 是真正意義上的安全的快速無損現場檢測設備。

        ⑤ 配置FP快速定性, 半定量 (定量) 程序??蓪θ魏?未知的樣品進行‘解剖’分析。與其他同類儀器相比,FP更為接近(符合)實際,在此程序中采用了數千種標準樣品,實測結果并予以固化。

        ⑥ 采用人機功效學原理,一體化的工業級電腦可以完成諸如:儀器控制,測試操作,自動識別,背底扣減,譜峰重疊,堆砌峰 / 逃逸峰校正,定量計算等操作功能。儀器采用分級密碼,重要的數據得到保護。標準USB接口更方便數據傳出。

        ⑦ 具備Interlock安全互鎖和硬體快門。如未檢測到測試樣品,快門互鎖裝置會于200毫秒內自動關閉快門并同時切斷X射線,連鎖保護功能大程度保護操作人員的人身安全;快門即為目前所有品牌中內置的ICAL自校準樣品,自動校準儀器,自動修正偏差,無需外置自校準標樣,保證分析結果的準確性。

        ⑧ 儀器在Windows CE操作系統上建立斯派克的分析軟件,操作方便。采用人機功效學原理,譜圖匯編,自動識別,背底扣減,譜峰重疊,堆砌峰/逃逸峰校正。定性、定量功能強大。儀器采用分級密碼,重要的數據得到保護。

        ⑨ 儀器具有多種校正模式(數學模型)(方法),在定量分析中可充分應用,以取得分析結果。方法包括: 基本參數法、盧卡斯經驗系數法、質量吸收系數法、基體匹配校正等等。

        ⑩ 可視CCD攝像頭定位系統,可實時記錄所測樣品的位置的圖像并和測試數據一同保存。

        檢測器

        ● SDD 硅漂移半導體檢測器

           Mn-K?能量分辨率:半峰寬<160eV

           輸入計數率*大至250kcps

        激發源

        X射線管

           ●  銠靶

           ●  *大50kV

            ●  *大125微安

         

        快門安全連鎖機構

        打開快門前,自動檢測是否有X射線泄漏,如未檢測到樣品,快門將于200毫秒的時間內自動關閉,關閉快門的同時儀器自動切斷X射線。

        自動快門

        具有硬體快門,快門關閉狀態下將射線源與外界物理上進行隔離.

        尺寸和重量

        -高: 270 mm (10.7“)

        -寬:  93 mm (3.7“)

        -深: 230 mm (9.1“)

        -重量:儀器1.264公斤,包括電池:380克

        電源

        - 可充電鋰聚合物電池操作

        - >4小時連續工作

        - 100 - 240 V, +/- 10%, 50 / 60 Hz(變壓器/充電器)

        - 分析時11W

        - 待機時6W

        操作

        激發扳機在*一次結果顯示后即可松開。始終按住激發扳機直至檢測結束。(分析時間2秒或12秒)

        Spectrometer control 光譜儀控制

        - 一體化電腦

        - Windows Mobile 操作系統

        - USB卡槽

        - Wireless LAN, USB 藍牙,無線局域網,

        Software 軟件

        - ICAL 標準化

        - 數據管理:以存儲數據后處理

        分析模式

        -可選擇不同的結果顯示方式

        -自動平均值計算

        -計算標準偏差和相對標準偏差

        牌號鑒別

        -基于以存儲的牌號庫的牌號鑒別

        -基于選定的牌號進行牌號確認

        -可選擇同時或分別顯示分析結果和牌號名稱

        -牌號庫可方便地修改或擴展

        材料分選

        -基于參考樣品的材料分選:是/不是

        -可設定對稱或非對稱的公差

        -三種操作模式可選

        -輸出報告

        附件(隨機提供)

        - 便攜箱

        -儀器/電池背包

        -2塊電池

        -充電器/變壓器

        - 消耗品

        文件

        - 操作手冊

        - U盤

        分析程序:

        1、Standard”標準分析程序:Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, In, Sn,

             Sb, Te, I, Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Ta, W, Hg, Tl, Pb, Bi, Th, U

        2、輕金屬分析程序: Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, 

             In, Sn, Sb, Te, I, Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Ta, W, Hg, Tl, Pb, Bi, Th, U

        3、鍍銀層分析程序

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